从单张图像预测微观结构代表性

本研究解决了传统方法需要大规模数据集和广泛统计分析的问题，提出了一种利用双点相关函数从单张2D或3D图像直接估计微观结构特性方差的新方法。该方法显著降低了进行代表性分析的数据需求，并为材料科学家和工程师提供了实用的工具，促进了在微观结构数据有限的情况下进行相应的相分数预测。