深度极化线索的单拍形状与次表面散射估计

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内容提要

通过结合SfP的偏振线索和PMD的几何信息,提出了一种测量原理,可以准确解码高光面反射的光场中的信息,并解决3D测量中的歧义问题。该方法改进了测量结果,验证了在复杂形状的高光表面上通过单次和多次拍摄的测量手段,表面法线的精度在0.6°以下。

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关键要点

  • 结合SfP的偏振线索和PMD的几何信息,提出了一种新的测量原理。
  • 该方法能够准确解码高光面反射的光场中的信息。
  • 解决了3D测量中的歧义问题。
  • 去除了SfP的不切实际正交成像假设,显著提高了测量结果。
  • 在复杂形状的高光表面上,通过单次和多次拍摄验证了表面法线的精度在0.6°以下。
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