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Semiconductor Testing Basics - Functional Testing
原文中文，约2200字，阅读约需6分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试基础中的功能测试，包括测试矢量、总功能测试和各种参数的功能测试法。其中，总功能测试包括OS测试和VOL/IOL & VOL/IOH测试，VIL/VIH测试和IOZL/IOZH测试。每种测试都有相应的测试流程和测试示意图。
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关键要点
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功能测试主要验证逻辑功能，使用测试矢量和测试命令。
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测试矢量是器件逻辑功能的输入输出真值表，强调时序。
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总功能测试包括OS测试、VOL/IOL & VOL/IOH测试、VIL/VIH测试和IOZL/IOZH测试。
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OS测试流程包括接地、定义电压、设置引脚模式和检测电压。
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VOL/IOL & VOL/IOH测试监控引脚电压，判断是否符合规格。
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VIL/VIH测试检查DUT是否能正常识别输入逻辑，监控输出引脚电压。
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IOZL/IOZH测试通过监控引脚电压判断是否符合规格。
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文章参考了《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》和《DC Test Theory》。
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