TFBEST：双重方面的 Transformer 与可学习的位置编码用于故障预测
原文中文，约300字，阅读约需1分钟。发表于：。提出了一种新颖的基于 Transformer 架构的 TFBEST（Temporal-fusion Bi-encoder Self-attention Transformer）方法用于预测硬盘故障，通过增强从健康统计序列中获得的上下文信息，预测磁盘潜在故障前剩余天数，并提供了一种新颖的置信边界统计，可帮助制造商在规定时间内更换硬盘。经实验证明，TFBEST...
本文介绍了TFBEST方法，一种基于Transformer架构的预测硬盘故障的方法。TFBEST通过增强上下文信息，预测磁盘故障前的剩余天数，并提供置信边界统计。实验证明，TFBEST在硬盘寿命预测上优于现有方法，适用于其他预测应用和回归问题。
