MMCL:基于 Deformable DETR 的检测器通过多类别最小边际对比学习提升卓越禁止物品检测
原文中文,约300字,阅读约需1分钟。发表于: 。禁止物品在 X 射线图像中的检测是一种最有效的安全检查方法,然而,与自然光图像不同,X 射线图像中的独特重叠现象导致前景和背景特征的耦合,从而降低了一般物体检测器的准确性。因此,我们提出了一种多类最小间隔对比学习(MMCL)方法,在可变形 DETR 体系结构下明确内容查询的类别语义信息,帮助模型从耦合特征中提取特定类别的前景信息。
X射线图像检测是一种有效的安全检查方法,但X射线图像中的独特重叠现象降低了一般物体检测器的准确性。因此,提出了一种多类最小边界对比学习(MMCL)方法,以帮助模型从耦合特征中提取特定类别的前景信息。