FabGPT:用于复杂晶片瑕疵知识查询的高效大型多模态模型
原文中文,约400字,阅读约需1分钟。发表于: 。FabGPT 是一个定制化的集成电路 (IC) 制造大型多模态模型,通过利用 LMMs 的能力进行扫描电子显微镜 (SEM)...
FabGPT是一个定制化的集成电路制造大型多模态模型,通过利用LMMs的能力进行扫描电子显微镜图像的缺陷检测、根本原因分析以及制造过程问答等任务。它实现了对复杂硅片背景下微小缺陷的自动检测和降低了手动阈值设定的主观性。通过调制模块和交互式语料库训练策略,将硅片缺陷知识嵌入预训练模型中,有效地平衡与缺陷知识相关的问答查询和原始知识,并减轻了模态偏差问题。在内部制造数据上的实验证明,FabGPT在硅片缺陷检测和知识查询方面取得了显著的性能提升。