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Semiconductor Test Basics - AC Parameter Test
原文中文，约3000字，阅读约需7分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试中的AC参数测试，包括建立时间、保持时间、传播时延、最小脉宽、最大频率、输出使能时间和输出失能时间等基本参数，以及读取周期时序和写入周期时序的示例。
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关键要点
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AC测试确保DUT的时特性序满足规格需求。
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建立时间是数据在参考信号变化前必须保持稳定的最短时间。
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保持时间是数据在参考信号变化后必须保持稳定的最短时间。
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传播时延是输入信号变化到输出信号反应之间的时间间隔。
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最小脉宽包括最小低脉冲宽度和最小高脉冲宽度。
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最大频率是设备可运行的最大速度。
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输出使能时间是引脚从高阻状态切换到有效驱动电平所需的时间。
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输出失能时间是引脚从有效驱动电平切换到高阻状态所需的时间。
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读取周期时序示例包括多个参数，如读取周期时间和地址到数据有效时间。
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写入周期时序示例包括多个参数，如写入周期时间和数据设置到写结束时间。
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