数字功能测试 🚧
原文英文,约300词,阅读约需1分钟。发表于: 。Digital Functional Test 🚧 This post is only available in English. References & Acknowledgements The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing Fundamentals of Testing Using ATE Original:...
本文介绍了数字半导体测试的基础知识,包括驱动和比较时序、数字功能调试的故障排除方法等。建议降低测试频率、查看实际波形、使用Shmoo方法进行分析、注意Pin电子驱动模式等。同时,还需要检查TDR是否校准以及模式本身是否存在缺陷。