研究人员提出了一种新的测量原理，通过结合偏振线索和几何信息，准确解码高光面反射的光场中的信息，并解决3D测量中的问题。该方法改进了测量结果，验证了在复杂形状的高光表面上通过单次和多次拍摄的测量手段，表面法线的精度在0.6°以下。