本研究提出了一个针对扫描电子显微镜（SEM）图像的纳米粒子精确检测和全面分析的计算框架。该框架利用Python的图像处理能力，采用阈值处理、膨胀和腐蚀等技术提高准确性。在RStudio环境中集成了纳米粒子数据，用于后处理分析。在主要样本图像中表现出高纳米粒子识别率，并在五个不同测试图像上具有97％的粒子检测准确率。能够识别出低强度纳米粒子，并绕过对照组的手动标记。