本文介绍了一种名为D-IOD的直接初始轨道确定方法，通过拟合划痕图像上的轨道参数来避免LOS向量提取步骤的不准确性或错误。同时，引入了一种新的非线性最小二乘目标函数，并结合梯度下降方法进行优化，以显示D-IOD方法在各种模拟场景和具有挑战性的实际划痕图像上的有效性。