本文介绍了一种名为正交映射(OM)的方法,用于解决细粒度目标检测中的语义混淆挑战。OM通过在特征空间中引入正交约束,提高分类准确性。实验证明OM在三个数据集上的效果卓越,尤其在ShipRSImageNet数据集上,OM相对于FCOS在mAP上提升了4.08%。
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