C#在AOI设备软件中的应用主要集中于自动光学检测技术。AOI利用计算机视觉进行产品缺陷检测，过程包括图像读取、坐标对齐、仿射变换和缺陷识别。通过Halcon脚本，设计图与实物图对齐后，利用差异分析和形态学处理识别缺陷。这项技术在半导体封装等领域得到广泛应用。