Power's Wiki · 2023-10-02T05:32:37Z Semiconductor Testing Basics - Basic Concepts 💡 原文中文，约4300字，阅读约需11分钟。 📝 内容提要 本文介绍了半导体测试基础的概念，包括ATE的作用和内部子系统，测试系统的组成，信号的格式和常用术语，测试参数，热切换，闩锁效应，固定型故障和Binning等。测试流程的设计对整个测试很重要。 🏷️ 标签 ATE Binning 信号格式 半导体测试 测试参数 阅读原文 生成长图 分享链接 已复制链接
