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自动化材料发现平台的实现：组合库的扫描探针显微镜研究
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原文英文，约100词，阅读约需1分钟。
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内容提要
本研究利用全自动扫描探针显微镜(SPM)解决了组合材料库在浓度依赖性结构和功能测量中的不足，探讨了Sm掺杂的BiFeO3和ZnxMg1-xO体系的强电性材料演变，强调了自动化SPM与合成控制结合的重要性。
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关键要点
- 本研究利用全自动扫描探针显微镜(SPM)解决了组合材料库在浓度依赖性结构和功能测量中的不足。
- 探讨了Sm掺杂的BiFeO3和ZnxMg1-xO体系的强电性材料演变。
- 强调了自动化SPM与合成控制结合的重要性。
- 研究结果表明，自动化SPM与上游合成控制相结合对于材料合成与表征的桥接至关重要。
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