本研究利用全自动扫描探针显微镜(SPM)解决了组合材料库在浓度依赖性结构和功能测量中的不足，探讨了Sm掺杂的BiFeO3和ZnxMg1-xO体系的强电性材料演变，强调了自动化SPM与合成控制结合的重要性。