基于图对齐的图神经网络及位置编码的基准测试
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内容提要
本研究提出了一种新的图神经网络基准测试方法,通过最大化重叠边进行自监督学习,解决图对齐问题。实验结果表明,该方法在分子回归任务中优于传统卷积架构。
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关键要点
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本研究提出了一种新的图神经网络基准测试方法。
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该方法通过最大化重叠边来解决图对齐问题。
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研究将图对齐问题框定为自监督学习任务。
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生成了逐步增加难度的图对齐数据集。
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实验结果表明,各向异性的图神经网络在分子回归任务中优于传统卷积架构。
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该方法在基准测试中取得了显著效果。
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