SGOOD:子结构增强的图层级外分布检测

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内容提要

该文介绍了一种使用SupCon训练模型以识别外分布样本的方法,通过增加对比项扩展SupCon损失,将OOD特征与ID特征分开,并将OOD特征远离现有类原型。该方法在常见基准测试中与不同的OOD检测方法进行了比较,并展示了最先进的结果。

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