DeCo: Defect-Aware Modeling with Contrastive Matching for Optimizing Task Assignment in Online IC Testing
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内容提要
本研究提出DeCo方法,解决传统IC测试任务分配中缺乏缺陷特征和工程师专业知识整合的问题。通过构建缺陷感知图,实现高效任务分配,成功率超过80%。该方法在IC故障分析中具有应用潜力。
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关键要点
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本研究提出DeCo方法,解决传统IC测试任务分配中缺乏缺陷特征和工程师专业知识整合的问题。
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DeCo方法通过构建缺陷感知图,利用共失效关系和任务与工程师技能匹配机制,实现任务的高效分配。
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实验表明,DeCo在各种场景下的任务处理成功率超过80%。
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DeCo方法能够将任务合理分配给具有潜力的工程师,显示出其在现实IC故障分析中的应用潜力。
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