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Semiconductor Testing Basics - DC Parameter Testing
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原文中文，约7200字，阅读约需17分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。
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关键要点
- DC 参数测试主要测量器件单个引脚的特性，验证电阻率。
- VOL 参数表示输出低电压，最大值为 0.4V，IOL 为 8mA。
- IDD 表示 CMOS 电路中漏极到漏极的电流，Gross IDD 是流入 VDD 管脚的总电流。
- Gross IDD 测试是 DUT 通电后的第一个测试，若不通过则无法继续测试。
- 静态 IDD 测试在最低功耗模式下测量流入 VDD 的总电流。
- 动态 IDD 测试确保 DUT 在动态执行功能时的电流不超过标称值。
- VOL/IOL 和 VOH/IOH 测试衡量引脚 Buffer 在输出低高电平时的阻抗。
- IIL 和 IIH 测试确保输入引脚的漏电流不超标，测试方法包括串行和并行。
- IOZL 和 IOZH 测试高阻态下的漏电流，确保引脚正常关断。
- VI 测试验证输入钳位二极管的完整性。
- IOS 测试衡量短路条件下的输出电流，确保输出阻抗正常。
- Resistive Inputs 测试上下拉阻性输入的正常性。
- Output Fanout 测试输出引脚驱动多个输入引脚的能力。
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