晶振引发的EMI超标问题

本文介绍了一款行车记录仪在EMC测试中出现EMI超标的问题，通过分析发现超标频点与12MHZ晶体的倍频有关。进一步分析发现，晶体布置在PCB边缘会导致共模辐射增强。为解决问题，将晶体内移，并在PCB表层敷铜，改善了辐射发射。文章提醒设计中要注意高速印制线或器件与参考接地板之间的容性耦合，避免布置在PCB边缘。