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原文中文,约3400字,阅读约需8分钟。
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内容提要
本文讨论了电子负载Rev.3的开发过程,重点在电压和电流检测的改进。通过使用MCU片上运放和ADC优化电路设计,尽管电压检测结果仍需校准。电流检测采用独立模式以提高CMRR,并介绍了保护电路的设计以确保信号稳定性。最后提到EEPROM的使用计划。
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关键要点
- Rev.3电子负载的电压和电流检测方案经过重新设计,采用MCU片上运放和ADC进行处理。
- 电压检测结果仍需校准,误差较Rev.1大,可能是由于MCU片上OpAmp性能不足。
- 电流检测采用独立模式以提高共模抑制比(CMRR),并支持PGA模式。
- 保护电路设计用于确保信号稳定性,使用了CH412K作为ESD保护器件。
- 计划使用EEPROM M24C64-F存储数模、模数转换查找表和设置数据。
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延伸问答
Rev.3电子负载的电压检测方案有什么改进?
Rev.3电子负载的电压检测方案采用了MCU片上运放和ADC进行处理,增加了滤波和保护电路,但电压检测结果仍需校准。
电流检测部分的设计有什么不同?
电流检测采用了独立模式和PGA模式,独立模式使用外置电阻配置增益,而PGA模式使用内置电阻动态调节增益。
为什么Rev.3的电压检测结果误差较大?
电压检测结果误差较大可能是由于MCU片上OpAmp性能不足,且在未进行额外校准的情况下,误差比Rev.1大。
保护电路的设计使用了什么器件?
保护电路设计使用了CH412K作为ESD保护器件,以确保信号的稳定性。
EEPROM在Rev.3中有什么用途?
EEPROM M24C64-F计划用于存储数模、模数转换查找表和设置数据。
Rev.3电子负载的硬件部分是否存在问题?
目前Rev.3的硬件部分没有发现问题,主要内容在于软件实现。
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