本研究提出了一种基于卷积神经网络（CNN）和自适应数据增强的快速分析方法，用于提取超导体点接触安德烈夫反射光谱的参数。该方法结合BTK理论生成的训练数据，能够在100毫秒内完成光谱参数拟合，显著降低了时间和劳动成本，为超导体研究提供了重要工具。