本文分析了Muon优化器的学习率与Batch Size的关系，结果与SignSGD一致，未发现新规律。通过平均场方法简化计算，得出结论：学习率与Batch Size的关系保持不变。

本文探讨了平均场方法在SignSGD和SoftSignSGD学习率计算中的应用，简化了推导过程。通过平均场近似，揭示了学习率与Batch Size的关系，特别是“Surge现象”，即Batch Size增大时学习率可能减小。该方法减少了假设，计算更简便，展示了平均场的灵活性和有效性。