本文介绍了半导体测试中的开路与短路测试（OS测试），用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷。测试方法有串行/并行静态法和动态法，适用于不同引脚数量的DUT。
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