Power's Wiki · 2023-10-02T03:46:33Z 半导体测试基础 - OS 测试 💡 原文中文，约1300字，阅读约需3分钟。 📝 内容提要 本文介绍了半导体测试中的开路与短路测试（OS测试），用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷。测试方法有串行/并行静态法和动态法，适用于不同引脚数量的DUT。 🏷️ 标签 OS测试 os 半导体 半导体测试 引脚数量 测试方法 电性物理缺陷 阅读原文 生成长图 分享链接 已复制链接
