本文介绍了半导体测试中的开路与短路测试（OS测试），用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷。OS测试的过程是借用对VDD和对地保护二极管进行的，有两种测试方法：用PMU灌入电流测电压和用功能测试的方法提供VREF，形成动态负载电流再测电压的。OS静态测试的特点是施加电流，测量电压，需要设置电压钳以钳制住开路引脚测试时产生的电压。

本文介绍了半导体测试中的开路与短路测试（OS测试），用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷。测试方法有串行/并行静态法和动态法，适用于不同引脚数量的DUT。