本文介绍了电平阈值测试，包括输出电平阈值和输入电平阈值，列出了不同类型的电平阈值的典型值。参考文献为《数字半导体测试基础》和《使用ATE进行测试的基础》。

本文介绍了电平阈值测试，包括输出电平阈值和输入电平阈值。测试方法采用串行方式，通过测量输出引脚的电阻和电压来检查其能力和正确逻辑状态。