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电平阈值测试 🚧
原文英文，约400词，阅读约需2分钟。
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内容提要
本文介绍了电平阈值测试，包括输出电平阈值和输入电平阈值，列出了不同类型的电平阈值的典型值。参考文献为《数字半导体测试基础》和《使用ATE进行测试的基础》。
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关键要点
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电平阈值测试包括输出电平阈值（VOL & VOH）和输入电平阈值（VIL & VIH）。
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电平阈值的典型值来源于TTL和CMOS。
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不同类型的电平阈值典型值包括TTL、LVTTL和CMOS的不同电压等级。
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VOL表示输出低电平时的最大输出电压，IOL表示低输出状态下的最大下拉电流能力。
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VOH表示输出高电平时的最小输出电压，IOH表示高输出状态下的最大上拉电流能力。
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VOL/IOL测试方法包括施加VDDmin并测量特定输出引脚的电压。
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VOH/IOH测试方法包括施加VDDmin并测量特定输出引脚的电压。
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输入电平阈值测试包括VIL和VIH。
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参考文献包括《数字半导体测试基础》和《使用ATE进行测试的基础》。
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