Sentry的新Trace Explorer和Span Metrics功能使追踪数据分析更便捷，用户可以查询、计算指标、识别模式并创建警报，从而有效解决复杂性能问题，优化应用表现。

Sentry推出Trace Explorer功能，帮助开发者更高效地分析应用性能。用户可以创建span指标，查询自定义属性，快速过滤和分组trace数据，并设置警报和仪表板，以便快速定位问题。