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Test Interface and TIC Basics
内容提要
本文介绍了半导体测试中的测试接口控制器（TIC）和测试接口协议（Test Interface），以及它们在AMBA规范中的应用。TIC的引脚包括TCLK、TREQA、TREQB、TACK和TBUS[31:0]。Vector有五种类型，包括Address Vector、Write Test Vector、Read Test Vector、Control Vector和TurnAround Vector。
关键要点
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测试接口控制器（TIC）是半导体测试中的总线主控器，遵循AMBA规范中的Test Interface协议。
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AMBA规范包括三类总线协议：AHB、高性能总线；ASB、系统总线；APB、外设总线。
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Test Interface采用三线握手机制控制Vector的读写，使用外部总线接口（EBI）作为数据路径。
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Test Interface的引脚包括时钟引脚TCLK、控制引脚TREQA、TREQB、TACK和32位测试总线TBUS[31:0]。
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TREQA用于请求进入测试模式，TACK用于表示总线状态，TBUS用于传输数据。
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Test Interface中有五种类型的Vector：Address Vector、Write Test Vector、Read Test Vector、Control Vector和TurnAround Vector。
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Address Vector用于声明地址，Write Test Vector用于写入数据，Read Test Vector用于读取数据。
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Control Vector用于更新TIC内部的控制信息，TurnAround Vector用于在读写操作间切换传输方向。
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在进行读写操作之前，必须先传入Address Vector，确保地址正确传输。
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Control Vector必须跟在Address Vector之后，用于更新控制信息。
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Write Test Vector和Read Test Vector的操作依赖于前面的Address Vector，且在操作后必须有TurnAround Vector。
