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太秀了！单片机内置ADC实现高分辨率采样？
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原文中文，约2600字，阅读约需7分钟。
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内容提要
本文介绍了利用单片机内置的ADC和过采样技术提高分辨率的方法，过采样可以提高分辨率和信噪比，同时也可以提高ADC的信噪比。通过过采样和软件后处理，可以实现更高的分辨率。累加和抽取的方式可以在成本受限的情况下提高采样分辨率。
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关键要点
- 本文探讨如何利用单片机内置的ADC和过采样技术提高分辨率。
- 过采样是以高于奈奎斯特频率的采样频率对信号进行采样。
- 过采样可以提高分辨率和信噪比，并减轻抗混叠滤波器的要求。
- 通过软件后处理，过采样可以实现更高的分辨率。
- 每提高W位分辨率，需要提高采样率倍。
- 过采样可以提升ADC的信噪比，理论上12位ADC的SNR极限值为74dB，提升4位后可达96dB。
- 在高过采样率下，CPU资源消耗较大，可以考虑使用DMA模式来优化数据处理。
- 在成本受限的情况下，单片机内ADC的过采样和累积抽取技术可以有效提升采样分辨率。
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