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Test Interface 与 TIC 基础
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原文中文，约4500字，阅读约需11分钟。
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内容提要
TIC是半导体测试中的总线主控器，遵循AMBA规范中的Test Interface协议。Test Interface使用三线握手机制和外部总线接口来测试未连接到总线的外设。Test Interface的引脚包括时钟引脚、控制引脚和测试总线。Vector有5种类型，包括Address、Write、Read、Control和TurnAround。
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关键要点
- TIC是半导体测试中的总线主控器，遵循AMBA规范中的Test Interface协议。
- AMBA规范包括AHB、ASB和APB三类总线协议。
- Test Interface采用三线握手机制和外部总线接口来测试未连接到总线的外设。
- Test Interface的引脚包括时钟引脚TCLK、控制引脚TREQA、TREQB和TACK，以及32位测试总线TBUS。
- TREQA用于请求进入测试模式，TACK用于表示总线状态和测试项完成。
- Test Interface中有五种类型的Vector：Address、Write、Read、Control和TurnAround。
- Address Vector用于声明地址，Write Test Vector用于写入，Read Test Vector用于读取。
- Control Vector用于更新TIC内部的Control信息，TurnAround Vector用于在读写操作间切换。
- 在进行Read/Write操作之前，必须先传入Address Vector。
- TurnAround Vector用于在Write/Read操作间切换TBUS传输方向。
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