CMOS电路的IDD测试

IDD测试是衡量CMOS电路中从漏极到漏极的电流流动的指标。静态IDD测试是在DUT处于静态状态时测量从VDD引脚流出的电流。动态IDD测试是在DUT不断执行某些功能时测量从VDD引脚流出的电流。静态IDDQ测试是在静态状态下测量IDD，用于检测电路核心中的小缺陷。测试方法包括施加VDDmax电压并测量电流值。