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半导体测试基础 - OS 测试
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原文中文，约1100字，阅读约需3分钟。
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内容提要
OS测试是用于验证测试系统与器件引脚电接触性的方法，通过灌入电流测电压的静态法可以检测开短路异常。测试流程包括施加电流并检测引脚电压，根据电压值判断是否开短路。静态法适用于引脚少的DUT，可以使用串行或并行方法进行测试。
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关键要点
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OS测试用于验证测试系统与器件引脚的电接触性，检测开短路异常。
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OS测试能快速发现DUT的电性物理缺陷和测试配件的问题。
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OS测试有两种方法：用PMU灌入电流测电压和用功能测试提供VREF形成动态负载电流再测电压。
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静态法测试OS通过灌入电流测电压，适用于引脚少的DUT。
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测试流程包括接地、施加电流、检测引脚电压以判断开短路状态。
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PMU提供恒流，需设置电压钳以限制开路引脚测试时的电压。
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静态测试的特点包括串行法适合引脚少的DUT，效率低；并行法需PPMU，但无法检测相邻引脚短路。
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