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半导体测试基础 - DC 参数测试
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原文中文，约7200字，阅读约需17分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。
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关键要点
- DC参数测试主要测量器件单个引脚的特性，验证电阻率。
- VOL参数表示输出低电压，最大值为0.4V，IOL为8mA。
- IDD表示CMOS电路中从漏极到漏极的电流，Gross IDD是流入VDD管脚的总电流。
- 静态IDD测试在最低功耗模式下测量流入VDD引脚的总电流。
- 动态IDD测试测量DUT在动态执行功能时的电流消耗。
- VOL/IOL和VOH/IOH参数用于衡量引脚Buffer在输出低高电平时的阻抗。
- IIL和IIH分别表示输入引脚逻辑为低高电平时的最大拉电流。
- IOZL和IOZH分别表示引脚在高阻态下的漏电流。
- VI测试验证三极管发射极和地之间钳位二极管的完整性。
- IOS测试衡量输出引脚在短路条件下的电流，确保输出电流不会过大。
- Resistive Inputs测试确保输入Buffer的上下拉电阻路径正常。
- Output Fanout能力衡量输出引脚驱动多个输入引脚的能力。
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