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内容提要
本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。
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本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。