该研究针对一维高斯过程数据的均值变化检测,提出了一种基于广义似然比检验的方法。该方法在固定和增长域中几乎达到渐近最优,充分利用了高斯过程的协方差结构。即使协方差未知,插件GLRT方法仍保持近似最优。
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