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内容提要
蔚华科技推出SP8000S非破坏性TSV检测系统,新增双光路模块,能够精准测量TSV孔深、孔壁缺陷及残留物。该系统已通过客户验证,预计明年出货,提升3D IC等技术的质量与良率。
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关键要点
- 蔚华科技推出SP8000S非破坏性TSV检测系统,新增双光路模块。
- 该系统能够精准测量TSV孔深、孔壁缺陷及孔内残留物。
- SP8000S检测系统已通过客户验证,并取得正式订单,预计明年出货。
- TSV技术是3D IC、堆叠式内存、高性能运算与AI芯片的核心基础。
- TSV孔深信息对刻蚀、填孔、电性可靠度与后段封装等关键步骤至关重要。
- SP8000S双光路模块可在十余分钟内完成12吋硅片上9区TSV孔深量测。
- SP8000S提供每个被量测TSV单孔孔深信息,并能实时检测孔内残留物与孔壁缺陷。
- 该系统确保关键质量的稳定性,从而提升良率。
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