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半导体测试基础 - 功能测试
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原文中文，约2200字，阅读约需6分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试中的功能测试，包括测试矢量和测试流程。其中，OS测试、VOL/IOL & VOL/IOH测试、VIL/VIH测试和IOZL/IOZH测试都是基于功能测试法进行的。
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关键要点
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功能测试主要验证逻辑功能，使用测试矢量和测试命令。
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测试矢量是器件逻辑功能的输入输出真值表，强调时序。
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OS测试使用功能测试法，检测开短路情况。
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VOL/IOL & VOL/IOH测试监控引脚电压，判断功能是否正常。
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VIL/VIH测试检查DUT是否能正常识别输入逻辑。
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IOZL/IOZH测试通过监控引脚电压判断功能状态。
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测试流程包括供电、设置参考电压和监控输出电压。
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