GaN器件近结热管理及建模简化的影响

GaN器件近结热管理及建模简化的影响

💡 原文中文,约5400字,阅读约需13分钟。
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内容提要

这篇文章分析了建模简化对器件仿真结温的影响。研究发现,忽略封装结构是可行的,二维简化可能会高估结温30%,而复杂结构对结温没有影响。文章还分析了几个参数对结温的影响。然而,这些分析可能忽略了热阻随结构参数变化的趋势。研究还讨论了近结热管理和建模简化对器件热阻的影响。忽略封装结构会导致错误的优化趋势,而单周期近似可以近似考虑热串扰的影响,但不能用于器件设计和优化。

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