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半导体测试基础 - DC 参数测试
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原文中文，约6900字，阅读约需17分钟。
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内容提要
本文介绍了半导体测试中的DC参数测试方法和参数，包括VOL、IOL、IDD、Gross IDD、VOH、IOH、IIL、IIH、IOZL、IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout。这些测试旨在验证器件的电流、电压和阻抗等特性是否符合规格要求，以确保器件的正常工作和可靠性。
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关键要点
- DC参数测试主要测量器件单个引脚的特性，验证电流、电压和阻抗是否符合规格要求。
- VOL参数表示输出低电压，最大值为0.4V，IOL为8mA，最大电阻不超过50Ω。
- IDD表示CMOS电路中从漏极到漏极的电流，Gross IDD是流入VDD管脚的总电流。
- Gross IDD测试是DUT通电后的第一个测试，若不通过则无法继续测试。
- 静态IDD测试在最低功耗模式下测量流入VDD引脚的总电流。
- 动态IDD测试测量DUT在动态执行功能时的电流，确保不超过标称值。
- VOL/IOL和VOH/IOH参数分别衡量输出低电平和高电平时的电压和电流能力。
- IIL和IIH分别表示输入引脚逻辑为低电平和高电平时的最大拉电流和灌电流。
- IOZL和IOZH测试输出引脚在高阻态下的漏电流，确保引脚能正常关断。
- VI测试验证TTL器件输入引脚的钳位二极管完整性。
- IOS测试衡量输出引脚在短路条件下的输出电流，确保不会过大。
- Resistive Inputs测试输入引脚的上下拉电阻路径正常。
- Output Fanout能力衡量输出引脚驱动多个输入引脚的能力，TTL和CMOS之间差异显著。
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