半导体测试基础 - 功能测试
原文中文,约2000字,阅读约需5分钟。发表于: 。半导体测试基础 - 功能测试 功能测试(Functional Test)主要是验证逻辑功能,是运用测试矢量和测试命令来进行的一种测试,相比于纯 DC 测试而言,组合步骤相对复杂且耦合度高。 在功能测试阶段时,测试系统会以周期为单位,将测试矢量输入 DUT,提供预测的结果并与输出的数据相比较,如果实际的结果与测试矢量预测值不相符,则认为不通过。 基本概念 测试矢量(Test...
本文介绍了半导体测试中的功能测试,包括测试矢量和测试命令。功能测试验证逻辑功能,通过比较实际结果与预测值判断是否通过。还介绍了功能测试的参数测试法,包括OS测试、VOL/IOL & VOL/IOH测试、VIL/VIH测试和IOZL/IOZH测试。