半导体测试基础 - OS 测试
原文中文，约1300字，阅读约需3分钟。发表于：。半导体测试基础 - OS 测试 开路与短路测试（OS，Open-Short Test，也称连续性或接触测试），用于 验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，且不会与其他引脚、与电源（地）发生短路。OS 测试能快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等；也能检测出与测试配件有关的问题，如 ProbeCard 或器件的...
本文介绍了半导体测试中的开路与短路测试（OS测试），用于验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷。测试方法有串行/并行静态法和动态法，适用于不同引脚数量的DUT。
