半导体测试基础 - DC 参数测试
原文中文,约6900字,阅读约需17分钟。发表于: 。半导体测试基础 - DC 参数测试 DC 参数测试,测的主要是器件上单个引脚的一些特性。对大多数的 DC 参数来说,实质上是在测半导体的电阻率,而解释电阻率用的是欧姆定律。如需验证 DC 测试流程的可行性,也可以借电阻器来等效 DUT,以排除 DUT 之外的问题。比方说,在芯片规格书里出现的参数 VOL: | Parameter | Description | Test...
本文介绍了半导体测试中的DC参数测试方法和参数,包括VOL、IOL、IDD、Gross IDD、VOH、IOH、IIL、IIH、IOZL、IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout。这些测试旨在验证器件的电流、电压和阻抗等特性是否符合规格要求,以确保器件的正常工作和可靠性。