半导体测试基础 - OS 测试
原文中文，约1100字，阅读约需3分钟。发表于：。半导体测试基础 - OS 测试 开路与短路测试（OS，Open-Short Test，也称连续性或接触测试），用于 验证测试系统与器件所有引脚的电接触性，且不会与其他引脚、与电源（地）发生短路。OS 测试能快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等；也能检测出与测试配件有关的问题，如 ProbeCard 或器件的...
OS测试是用于验证测试系统与器件引脚电接触性的方法，通过灌入电流测电压的静态法可以检测开短路异常。测试流程包括施加电流并检测引脚电压，根据电压值判断是否开短路。静态法适用于引脚少的DUT，可以使用串行或并行方法进行测试。
