半导体测试基础 - DC 参数测试
原文中文,约7200字,阅读约需17分钟。发表于: 。半导体测试基础 - DC 参数测试 DC 参数测试,测的主要是器件上单个引脚的一些特性。对大多数的 DC 参数来说,实质上是在测半导体的电阻率,而解释电阻率用的是欧姆定律。如需验证 DC 测试流程的可行性,也可以借电阻器来等效 DUT,以排除 DUT 之外的问题。比方说,在芯片规格书里出现的参数 VOL: | Parameter | Description | Test...
本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。