半导体测试基础 - 功能测试
原文中文,约2200字,阅读约需6分钟。发表于: 。半导体测试基础 - 功能测试 功能测试(Functional Test)主要是验证逻辑功能,是运用测试矢量和测试命令来进行的一种测试,相比于纯 DC 测试而言,组合步骤相对复杂且耦合度高。 在功能测试阶段时,测试系统会以周期为单位,将测试矢量输入 DUT,提供预测的结果并与输出的数据相比较,如果实际的结果与测试矢量预测值不相符,则认为不通过。 基本概念 测试矢量(Test...
本文介绍了半导体测试中的功能测试,包括测试矢量和测试流程。其中,OS测试、VOL/IOL & VOL/IOH测试、VIL/VIH测试和IOZL/IOZH测试都是基于功能测试法进行的。