Semiconductor Testing Basics - DC Parameter Testing
原文中文,约7200字,阅读约需17分钟。发表于: 。Semiconductor Testing Basics - DC Parameter Testing DC parameter testing mainly measures the characteristics of individual pins on a device. For most DC parameters, the semiconductor resistivity...
本文介绍了半导体测试中的IOZL/IOZH、VI、IOS、Resistive Inputs和Output Fanout等参数的测试方法和目的。